基于荧光成像系统小麦病害叶片异质性分析

作者： 杜世州; 曹承富; 袁琳; 廖钦洪;

机构： 安徽省农业科学院作物所,合肥230031; 国家农业信息化工程技术研究中心,北京100097;

会议名称：第十五次全国小麦栽培科学学术研讨会

会议举办方：中国作物学会

关键词： 荧光成像系统 小麦 白粉病 快速光曲线 异质性 小麦病害

年份：2012