科研产出
应用基因芯片分析短日低温条件下新型粳稻光温敏核质互作不育系育性相关基因
《中国水稻科学 》 2010 北大核心 CSCD
摘要：为了解具有三系和两系两套不育机制的新型粳稻光温敏核质互作不育系2310SA分子水平上的育性机理,同时也试图对水稻雄性不育现象做进一步探讨,利用水稻基因芯片,以2310SA及其保持系两系光温敏不育系2310S为材料,在安徽合肥秋季自然短日低温条件下,比较了稳定不育的2310SA和恢复可育的2310S(对照)减数分裂期、单核期、二核期和三核期等4个穗发育时期花药基因表达谱的变化差异。减数分裂期(上调表达基因1938个,下调表达基因1635个)和三核期(上调表达基因2220个,下调表达基因2656个)差异表达基因数目多于单核期(上调表达基因752个,下调表达基因693个)和二核期(上调表达基因1025个,下调表达基因886个),三核期下调表达基因比上调表达基因多,其他3期上调表达基因比下调表达基因多。所有差异表达基因聚类显示,单核期和二核期差异表达基因聚为一类,减数分裂期和三核期差异表达基因独立成为第2类和第3类。筛选出147个在4个穗发育时期都差异表达的基因。这些共有差异表达基因也只有在三核期下调表达基因比上调表达基因多。这些共有差异表达基因,参与了生物合成、刺激反应、光合作用、信号传导、大分子的新陈代谢、运输、转录调节、碳水化合物的代谢、花的发育和细胞死亡等11类生物学过程。所得共有差异表达基因中存在与脂类代谢有关的细胞色素P450家族蛋白和β-环羟化酶,与热激反应有关的热激转录因子、热激蛋白DnaJ家族蛋白及热激蛋白70等相关基因。这些基因与细胞死亡有直接或间接的关系,它们的异常表达可能与不育花粉的形成有关。
关键词： 基因芯片 粳稻 不育性 基因 光温敏核质互作不育系 光温敏不育系
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安徽省两系杂交水稻种子生产安全技术与应用研究(Ⅱ)——籼型光温敏核不育系的育性研究
《安徽农业科学 》 2002 CSCD
摘要：以 3 418S、X0 7S、3 99S、2 3 0 1S和培矮 64S(CK) 5个籼型光温敏核不育系为材料 ,1994～ 2 0 0 1年在合肥进行分期播栽试验 ,抽穗时观察其育性变化情况。研究结果表明 :历年籼型光温敏核不育系的稳定不育时段大致为 8月 10～ 2 5日 ,其相应的育性敏感安全时段约在 7月 2 5日～ 8月 14日
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